識別卡無觸點集成電路卡——鄰近卡

第一部分：物理特性

1．范圍

ISO/IEC14443的這一部分規(guī)定了鄰近卡（PICC）的物理特性。它應用于在耦合設(shè)備附近操作的ID－1型識別卡。

ISO/IEC14443的這一部分應與正在制定的ISO/IEC14443后續(xù)部分關(guān)聯(lián)使用。

2．標準引用

下列標準中所包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。本標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用ISO/IEC14443這一部分的各方應探討使用下列最新版本標準的可能性。ISO和IEC的成員修訂當前有效國際標準的紀錄。

ISO/IEC7810：1995，識別卡——物理特性。

ISO/IEC10373，識別卡——測試方法。

3．定義，縮略語和符號

3.1定義

下列定義適用于ISO/IEC14443的這一部分：

3.1.1集成電路Integrated circuit(s)（IC）：

用于執(zhí)行處理和/或存儲功能的電子器件。

3.1.2無觸點的Contactless：

完成與卡的信號交換和給卡提供能量，而無需使用微電元件（即：從外部接口設(shè)備到卡上的集成電路之間沒有直接路徑）。

3.1.3無觸點集成電路卡Contactless integrated circuit(s) card：

一種ID－1型卡類型（如ISO/IEC7810中所規(guī)定），在它上面有集成電路，并且與集成電路的通信是用無觸點的方式完成的。

3.1.4鄰近卡Proximity card（PICC）

一種ID－1型卡，在它上面有集成電路和耦合工具，并且與集成電路的通信是通過與鄰近耦合設(shè)備電感耦合完成的。

3.1.5鄰近耦合設(shè)備Proximity coupling device（PCD）

用電感耦合給鄰近卡提供能量并控制與鄰近卡的數(shù)據(jù)交換的讀/寫設(shè)備。

4．物理特性

4.1一般特性

鄰近卡應有根據(jù)ISO/IEC7810中規(guī)定的ID－1型卡的規(guī)格的物理特性。

4.2尺寸

鄰近卡的額定尺寸應是ISO/IEC7810中規(guī)定的ID－1型卡的尺寸。

4.3附加特性

4.3.1紫外線

ISO/IEC14443的這一部分排除了大于海平面普通日光中的紫外線的紫外線水平的防護需求，超過周圍紫外線水平的防護應是卡制造商的責任。

4.3.2X－射線

卡的任何一面曝光0.1Gy劑量，相當于100KV的中等能量X—射線（每年的累積劑量），應不引起卡的失效。

注1：這相當于人暴露其中能接受的最大值的年累積劑量的近似兩倍。

4.3.3動態(tài)彎曲應力

按ISO/IEC10373中描述的測試方法（短邊和長邊的最大偏移為hwA=20mm，hwB=10mm）測試后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

4.3.4動態(tài)扭曲應力

按ISO/IEC10373中描述的測試方法（旋轉(zhuǎn)角度為15°）測試后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

4.3.5可變磁場

a）在下表給出的平均值的磁場內(nèi)暴露后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

f—頻率（MHz）

磁場的最高值被限制在平均值的30倍。

b）在12A/m、13.56MHz的磁場中暴露后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

頻率范圍（MHz）平均磁場強度（A/m）平均時間（minutes）

0.3——3.01.636

3.0——304.98/f6

30——3000.1636

頻率范圍（MHz）平均電場強度（V/m）平均時間（minutes）

0.3——3.0  0.6146

3.0——30  1842/f6

30——300 61.46

4.3.6可變電場

在下表給出的平均值的電場內(nèi)暴露后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

f—頻率（MHz）

電場的最高值被限制在平均值的30倍。

4.3.7靜態(tài)電流

按ISO/IEC10373（IEC1000－4－2：1995）中描述的測試方法（測試電壓為6KV）測試后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

4.3.8靜態(tài)磁場

在640KA/m的靜態(tài)磁場內(nèi)暴露后，鄰近卡應能繼續(xù)正常工作。

警告：磁條上的數(shù)據(jù)內(nèi)容將被這樣的磁場擦去。

4.3.9工作溫度

在0℃到50℃的環(huán)境溫度范圍內(nèi)，鄰近卡應能正常工作。

附錄A（提示的附錄）

標準兼容性和表面質(zhì)量

A.1標準的兼容性

本標準并不排斥現(xiàn)存其它的標準中涉及PICC的部分，這里的限制只是為了突出PICC。

A.2用于印制的表面質(zhì)量

如果對印制生產(chǎn)出的PICC有特殊的要求，就應注意保證供印制的區(qū)域的表面質(zhì)量能夠適應印制的技術(shù)或采用的打印機。

附錄B（提示的附錄）

其它ISO/IEC卡標準參考書目

ISO/IEC7811－1：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第一部分：凸印。

ISO/IEC7811－2：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第二部分：磁條。

ISO/IEC7811－3：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第三部分：ID－1型卡上凸印字符的位置。

ISO/IEC7811－4：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第四部分：ID－1型卡上只讀磁道——磁道1和2的位置。

ISO/IEC7811－5：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第五部分：ID－1型卡上讀寫磁道——磁道3的位置。

ISO/IEC7811－6：1995，識別卡——記錄技術(shù)——第六部分：磁條——高矯頑磁性。

ISO/IEC7812－1：1993，識別卡——發(fā)卡人的識別——第一部分：編碼體系。

ISO/IEC7812－2：1993，識別卡——發(fā)卡人的識別——第二部分：應用和注冊過程。

ISO/IEC7813：1995，識別卡——金融交易卡。

ISO/IEC7816－1：1998，識別卡——接觸式集成電路卡——第一部分：物理特性。

ISO/IEC7816－2：1998，識別卡——接觸式集成電路卡——第二部分：接觸的尺寸和位置。

ISO/IEC7816－3：1997，識別卡——接觸式集成電路卡——第三部分：電信號和傳送協(xié)議。

ISO/IEC10536－1：1992，識別卡——無觸點集成電路卡——第一部分：物理特性。

ISO/IEC10536－2：1995，識別卡——無觸點集成電路卡——第二部分：耦合區(qū)域的尺寸和位置。

第二部分：頻譜功率和信號接口

第三部分：初始化和防碰撞算法

第四部分：傳輸協(xié)議

8A型和B型PICC的協(xié)議去激活

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