每一個RFID通信系統(tǒng)都必須通過監(jiān)管要求并符合所用標準。今天我們就來討論下RFID通信系統(tǒng)的設計師所面對的測試挑戰(zhàn)。

　　RFID技術有幾個不同尋常的工程測試挑戰(zhàn)，例如瞬時信號、帶寬效率低的調(diào)制技術和反向散射數(shù)據(jù)。RFID標簽是由RFID天線與RFID芯片構成的，而RFID標簽和讀寫器就構成了整個RFID系統(tǒng)。

　　在RFID測試標準里面，RFID標簽和讀寫器的測試有規(guī)范性測試(包括時序、波頻、頻譜等)和性能測試(包括反向功率、讀距、反向距離等)，RFID系統(tǒng)則包括效率測試和互操作性測試。

　　系統(tǒng)測試標準

　　傳統(tǒng)的掃頻調(diào)諧頻譜分析儀、矢量和已被用于無線數(shù)據(jù)鏈路的開發(fā)。然而，這些工具用于RFID測試時都存在一些缺點。掃頻調(diào)諧頻譜分析儀難以準確捕獲和刻畫瞬時RF信號。矢量儀實際上不支持頻譜效率低的RFID調(diào)制技術及特殊解碼要求?？焖偈静ㄆ鞯臏y量動態(tài)范圍小，不具備調(diào)制和解碼功能。

　　標簽及標簽芯片的測試方式，一是性能測試，它會涉及到校準及環(huán)境、激活功率、反向功率等，當測試所選擇的天線、指令(Query, Read EPC)、發(fā)射功率設置及擺放位置的不同，也會導致測試結果的不相同。二是方向性測試，不同角度的標簽導致其性能差別很大。除此之外，還有全自動規(guī)范性測試生成測試報告，當通過自動化規(guī)范性測試軟件了解到不合格的項目之后，針對不合格的項目可以對具體的波形、時序、頻譜進行分析，標簽存取測試如讀/寫內(nèi)存測試等，快速了解標簽或標簽芯片存在的規(guī)范性問題。

　　在性能測試上，獨立標簽測試需要標簽回復(仿真標簽)去確認讀寫器可以識別的標簽的響應，并且讀寫器可以改變標簽的參數(shù)變量如 BLF變量(反向鏈路頻率)和占空比變量等，最后會呈現(xiàn)出可以支持頻率和整個功率范圍的讀寫器性能。

　　而在規(guī)范性測試上，通過仿真標簽及Rx天線接收來自讀寫器的信號，可以分析每個指令的內(nèi)容、波形、時序等，且可以設置指令觸發(fā)并長時間記錄數(shù)據(jù)流。

　　系統(tǒng)項目

　　RFID系統(tǒng)測試方式，其系統(tǒng)性能依賴于標簽性能、讀寫器性能和協(xié)議設置和軟件這幾方面。系統(tǒng)測試需要獲得相關的信息，如標簽與讀寫器之間通信的實際內(nèi)容，需要讀寫器指令及標簽響應時序、指令去觸發(fā)分析;通信內(nèi)容統(tǒng)計需要Q值、響應次數(shù)、沖突次數(shù)等去讀取標簽次數(shù)并進行指令統(tǒng)計。

　　滿足基本規(guī)范后，對RFID產(chǎn)品的性能進行優(yōu)化以贏得某一特定市場空間的競爭優(yōu)勢就顯得尤為重要。性能指標包括標簽的讀取速度、標簽在多閱讀器環(huán)境中的工作能力和標簽與閱讀器之間的距離。在消費應用中，標簽與閱讀器之間的通信速度直接影響用戶的滿意度。

　　由于無源標簽從RFID閱讀器獲得它們正常工作所需的能量，多個閱讀器可能導致標簽試圖對詢問它的每一個閱讀器都進行響應。在多閱讀器情況下，可以通過RFID測試系統(tǒng)來改善系統(tǒng)的吞吐量需要使用某種防沖突協(xié)議。