中科國(guó)技探討無(wú)人零售應(yīng)用測(cè)試
7月31日,2018第14屆RFID世界應(yīng)用創(chuàng)新大會(huì)在深圳會(huì)展中心1號(hào)館隆重舉辦,繼續(xù)結(jié)合最新的RFID行業(yè)技術(shù)和應(yīng)用成果,召集了行業(yè)內(nèi)外的意見領(lǐng)袖,展開深度的研討交流。北京中科國(guó)技信息系統(tǒng)有限公司RFID產(chǎn)品經(jīng)理李哲先生,結(jié)合無(wú)人零售現(xiàn)狀,發(fā)表無(wú)人零售應(yīng)用測(cè)試方案。

隨著互聯(lián)網(wǎng)電商和移動(dòng)支付普及,顧客被大量分流,消費(fèi)分散、消費(fèi)碎片化趨勢(shì)已經(jīng)不可逆轉(zhuǎn)。就目前來(lái)看,越來(lái)越多的企業(yè)開始涉足無(wú)人零售行業(yè),如京東、阿里、蘇寧等。同樣,越來(lái)越多人開始利用RFID技術(shù)進(jìn)行無(wú)人零售管理。李總表示,在目前的相關(guān)的應(yīng)用中,由于應(yīng)用場(chǎng)景、需求多樣化,對(duì)無(wú)人零售應(yīng)用進(jìn)行有關(guān)測(cè)試,對(duì)無(wú)人零售行業(yè)發(fā)展十分必要。
李總的這次演講主要介紹以無(wú)人零售柜為例的有關(guān)測(cè)試方案,并介紹一些在無(wú)人零售應(yīng)用的相關(guān)測(cè)試,通過(guò)有關(guān)測(cè)試為行業(yè)應(yīng)用、識(shí)讀率提升構(gòu)建一個(gè)清晰框架。其演講主要分為讀寫器天線輻射場(chǎng)測(cè)試、標(biāo)簽性能測(cè)試、所用標(biāo)簽生產(chǎn)一致性測(cè)試三個(gè)部分。
讀寫器天線輻射場(chǎng)測(cè)試
就無(wú)人零售行業(yè)而言,讀取率是行業(yè)關(guān)鍵。如何提升讀寫率?大部分人首先考慮標(biāo)簽、讀寫器性能等相關(guān)因素,卻忽略了讀寫器天線在實(shí)際應(yīng)用中占據(jù)主導(dǎo)型作用的現(xiàn)實(shí),李總表示將讀寫器天線輻射場(chǎng)測(cè)試放在首要位置很有必要。
針對(duì)無(wú)人零售,解決讀寫器天線覆蓋是關(guān)鍵。李總直言,如果能有效解決天線覆蓋應(yīng)用,目前市場(chǎng)上各個(gè)廠家的讀寫器性能不會(huì)有太大的差異。而在實(shí)際應(yīng)用中,大部分的智能零售冷柜,為了實(shí)現(xiàn)商品讀取全面覆蓋,每一層都配備2個(gè)天線,這就在無(wú)形中增加了相關(guān)成本。無(wú)人零售應(yīng)用屬于較近距離識(shí)別應(yīng)用,在此距離下,標(biāo)簽讀距較近,各類反射較多,反射雖然能增強(qiáng)標(biāo)簽的激活,但是同樣會(huì)增加讀寫器接收到的雜波,增大解調(diào)難度,如讀寫器天線輻射出的場(chǎng)強(qiáng)可以輻射完全覆蓋所讀標(biāo)簽,那么發(fā)射功率應(yīng)可小于20dBm;此時(shí)應(yīng)用對(duì)讀寫器要求較低,不做或做簡(jiǎn)單測(cè)試即可。
標(biāo)簽識(shí)讀性能測(cè)試
李總指出,在現(xiàn)實(shí)生活中,就標(biāo)簽而言,其選型、設(shè)計(jì)各有不同且標(biāo)簽被應(yīng)用的事物材料屬性多樣,標(biāo)簽會(huì)因所依附事物材質(zhì)、選型不同導(dǎo)致識(shí)讀結(jié)果差異。

無(wú)人零售中標(biāo)簽有三點(diǎn)基本要求:一、帖放在不同的材質(zhì)上,并不需要讀距很遠(yuǎn),但在各個(gè)材質(zhì)上都要有適中的性能;二、會(huì)有多個(gè)標(biāo)簽重疊,標(biāo)簽天線互相耦合導(dǎo)致性能下降,需要設(shè)計(jì)低互耦標(biāo)簽;三、標(biāo)簽和天線之間有不同的角度,需要標(biāo)簽天線在不同位置的情況下,標(biāo)簽性能不至于差異過(guò)大(這里的角度和天線輻射方向圖無(wú)關(guān),而是指標(biāo)簽在水平方向上轉(zhuǎn)動(dòng),會(huì)有不同的角度。
中科國(guó)技為保證所用標(biāo)簽性能一致,做了大量測(cè)試,包括觀察標(biāo)簽在不同方位/不同方向找弱點(diǎn)受制因素,進(jìn)行針對(duì)性修改的響應(yīng)測(cè)試;各層標(biāo)簽所處位置的性能識(shí)讀的多標(biāo)簽盤存測(cè)試;無(wú)人售貨柜中是否有干擾信號(hào)影響讀寫器工作的干擾測(cè)試。
標(biāo)簽性能一致實(shí)例

改善標(biāo)簽的方向性、改善耦合或者是改讀寫器,或讓讀寫器天線覆蓋更大,這些方式都能改善讀寫率。供應(yīng)商所提供標(biāo)簽性能是否一致,是決定標(biāo)簽是否存在漏讀重要指標(biāo)。李總表示,好的標(biāo)簽設(shè)計(jì)不代表理想的實(shí)際應(yīng)用,只有將設(shè)計(jì)和生產(chǎn)都把控好,才能在實(shí)際應(yīng)用環(huán)節(jié)取得理想效果。
北京中科國(guó)技信息系統(tǒng)有限公司是專注于提供無(wú)線通信和射頻微波測(cè)試系統(tǒng)解決方案的國(guó)家高新技術(shù)企業(yè),是領(lǐng)先的RFID、OTA測(cè)試方案提供商。公司于2009年進(jìn)入RFID行業(yè)提供基于芯片級(jí)讀寫器級(jí)的測(cè)試解決方案,2012年年底正式成為芬蘭Voyantic公司在中國(guó)區(qū)合作伙伴,提供從研發(fā)、生產(chǎn)到應(yīng)用端的完整解決方案,覆蓋標(biāo)簽/讀寫器產(chǎn)品底層測(cè)試,性能測(cè)試,批量測(cè)試及現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用測(cè)試各個(gè)方面。作為美國(guó)是德科技的系統(tǒng)合作伙伴,中科國(guó)技擁有雄厚的技術(shù)實(shí)力和核心研發(fā)團(tuán)隊(duì),為客戶提供從FPGA、芯片、標(biāo)簽、讀寫器產(chǎn)品問(wèn)題定位測(cè)試到高端認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室RFID檢測(cè)等多種方案。