“國立故宮博物院”所典藏的底片約有10萬片，且每年約有2,000張的新增底片，經(jīng)常因?qū)W術(shù)研究、月刊、底片授權(quán)使用等目的，底片進出頻率甚為頻繁。而過去大多以人力手動輸入之方式進行借出去、查詢及盤點，較為耗時及作業(yè)成本，且因底片本身皆放置于一底片外袋中，于大量的借出入時會發(fā)生底片錯置外袋的可能，加上若可以一次大量辨識底片則可以改善現(xiàn)有的盤點模式，將可以達(dá)到正確快速的盤點目標(biāo)。 

　　在本次概念性驗證的技術(shù)需求上，仍需維持現(xiàn)有作業(yè)之一次大量借出入，所以，RFID應(yīng)用要輔助作業(yè)人員可以利用讀取器直接辨識底片本身之電子標(biāo)簽而及外袋。驗證上的重點則在找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽，此外，標(biāo)簽背面的接著劑需為無酸膠以避免毀壞底片，此外，因為故宮存放底片的方式都非常的緊密，思考如何達(dá)成快速盤點目的，則電子標(biāo)簽須可以達(dá)到堆疊讀取之效能。 

　　概念性驗證內(nèi)容 

　　本次概念性驗證內(nèi)容分為三個階段包含：基本性能測試、實驗室模擬測試及實際導(dǎo)入測試。其包含讀取距離、外袋材質(zhì)讀取效能、堆疊方式及讀取效能、底片貼附標(biāo)簽進行掃描測試。 

　　(一) 貼附底片電子標(biāo)簽選用 

　　一如前述，找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽是本次驗證重點之一。 

　　本次驗證根據(jù)廠商提供之電子標(biāo)簽進行測試，一共有三個頻段分別是HF、UHF及2.45GHz，但因底片邊緣可進行RFID貼附之空間有限，現(xiàn)有HF、UHF標(biāo)簽過大，不符條件。本驗證所得選用日晶科技所提供的2.45G Mu chip，其標(biāo)簽大小為長*寬為5.1mm * 1.5mm，如圖1所示。另一方面無酸接著劑的部份，于本次驗證亦有負(fù)責(zé)化學(xué)材料的亞洲日信針對該電子標(biāo)簽進行無酸膠的開發(fā)，因ISO國際規(guī)定的無酸紙PH值介于7-9之間，而本次概念性測試的PH值介于7-8.5，符合于ISO標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)。 

 

圖1、本驗證所用2.45G Mu chip 

　　于解決底片貼附電子標(biāo)簽的問題后，須再克服底片后續(xù)應(yīng)用之議題，因此進行測試底片貼附標(biāo)簽后，底片是否于后續(xù)借出進行掃描有所影向，本次測試于裕華彩藝印刷廠進行實地測試，如圖2所示。該次測試之目的在于確定底片所掃瞄出來的圖檔是否會有色差或異物狀等影響，及貼附電子標(biāo)簽是否會影響掃瞄作業(yè)。于印刷廠實地驗測，如圖3所示，電子標(biāo)簽貼附位置應(yīng)為朝向上，且非于掃描時固定底片使用的膠帶位置，另于掃描后電腦畫面放大顯示，并無異物狀及色差等問題產(chǎn)生，該結(jié)果可提供“國立故宮及”其它博物館等底片應(yīng)用參考。 

圖2、本驗證于裕華彩藝印刷廠進行實地測試 

圖3、本驗證測試電子標(biāo)簽貼附位置 

　　(二) 底片盤點應(yīng)用測試 

　　然而，在底片外袋上則較無尺寸的限制。惟，考量成本與市面既有設(shè)備下，本次盤點應(yīng)用使用UHF及HF兩種頻段進行應(yīng)用測試時，測試的三種不同的堆疊方式，其示意如下圖所示： 

圖4、底片盤點應(yīng)用測試三種不同的堆疊方式 

　　約使用20張的電子標(biāo)簽進行測試后，以天機開發(fā)所提供的HF其堆疊讀取效能為佳，于上述的三種堆疊方式階可以有效100%讀取，而該設(shè)備為符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn)，于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取，該標(biāo)準(zhǔn)能滿足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤點的應(yīng)用所需，如圖5中所示，于該天線所涵蓋之范圍皆可進行堆疊讀取。

圖5、可進行堆疊讀取的堆疊方式

　　(三) 實地進行驗證測試 

　　于“國立故宮博物院”底片庫進行的驗測流程及情境為圖6所示，包含為新增底片、儲存、底片借出及歸還和盤點作業(yè)，一次大量借出入的作業(yè)考量是驗測流程設(shè)計的重點。 

圖6、驗測流程及情境  

　　1. 新增底片作業(yè)測試 

　　新增底片作業(yè)測試系統(tǒng)畫面如圖7所示，主要于底片、外袋及該文物底片資料進行資料之連結(jié)，于該筆資料之登錄號查詢出資料后，進行底片及外袋RFID電子標(biāo)簽ID的讀取后進行資料連結(jié)即可。 

圖7、新增底片作業(yè)測試系統(tǒng)畫面  

　　2. 底片借出入作業(yè)測試 

　　底片借出入作業(yè)須確定底片本身及外袋ID，并輸入借用人申請資料，如圖8中所示，讀取底片本身ID無須抽出外袋，再于下個步驟讀取保存外袋的電子標(biāo)簽ID，以確定兩者沒有錯置，并于歸還時一樣進行讀取底片和外袋的ID后系統(tǒng)可以直接帶出該借用申請資料，若是讀取底片ID和保存外袋是錯置而非當(dāng)然借出的ID，則歸還時系統(tǒng)不會帶出借用申請資料。 

圖8、底片借出入作業(yè)測試系統(tǒng)畫面  

　　3. 底片盤點作業(yè)測試 

　　基于本來底片庫所使用的底片儲存方式于金屬材質(zhì)內(nèi)，若是使用手持式讀取設(shè)備直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難，且讀取效果不佳。 

圖9、直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難     圖10、將底片置于容器內(nèi)再行讀取  

　　建議盤點時可以將底片取出讀取，因此，改變原有的儲存方式，于柜內(nèi)約將200張底片置于一個容器內(nèi)，再將容器取出放于讀取器旁進行盤點，因此可以避免底片散落及加速帶量盤點等作業(yè)，于第三階段進行測試的結(jié)果，一次帶量為40張底片進行盤點讀取，約只有花費1-2秒中，將可以大幅減少過去人力及時間。 

圖11、于查詢、于查詢、借出及歸還時系統(tǒng)可帶出該底片之圖檔

　　未來相關(guān)應(yīng)用建議 

　　于本次驗證的觀察若標(biāo)簽為密集讀取時，若需使用UHF后建議標(biāo)簽于貼附于標(biāo)的物時，采交錯貼附之方式，減少金屬材質(zhì)對于標(biāo)簽讀取上的影響，而此次采用HF設(shè)備符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn)，于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取，該標(biāo)準(zhǔn)能滿足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤點的應(yīng)用所需。而于導(dǎo)入的現(xiàn)場測試階段，于查詢、于查詢、借出及歸還時，系統(tǒng)畫面可帶出該底片之圖檔，以便底片進出庫房時可以再次確認(rèn)底片及系統(tǒng)上顯示的圖片是否相同，并于盤點時的畫面除了可以顯示欲盤點的底片外，亦可以顯示出錯置的底片相關(guān)訊息。  

　　(文/經(jīng)濟部RFID公領(lǐng)域應(yīng)用推動辦公室．李明興專案經(jīng)理)