8月16日，2017第12屆RFID世界應(yīng)用創(chuàng)新大會在深圳會展中心隆重舉辦。本次大會共邀請了300余家RFID行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)的優(yōu)秀企業(yè)、行業(yè)權(quán)威專家、RFID終端用戶代表共同參與，剖析行業(yè)發(fā)展方向，共同探索行業(yè)發(fā)展新模式。在本次大會上，深圳市唐領(lǐng)科技有限公司營銷總監(jiān)羅海濤先生以《RFID系統(tǒng)級測試探秘》為主題，與會場觀眾進(jìn)行了精彩的演講。

深圳市唐領(lǐng)科技有限公司營銷總監(jiān)羅海濤先生

　　RFID標(biāo)簽是由RFID天線與RFID芯片構(gòu)成的，而RFID標(biāo)簽和讀寫器就構(gòu)成了整個RFID系統(tǒng)。在RFID測試標(biāo)準(zhǔn)里面，RFID標(biāo)簽和讀寫器的測試有規(guī)范性測試(包括時序、波頻、頻譜等)和性能測試(包括反向功率、讀距、反向距離等)，RFID系統(tǒng)則包括效率測試和互操做性測試。

　　傳統(tǒng)的RFID測試方式，首先在天線上，使用網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)去測試是沒辦法測試出功率等級的變換，其次是不能接收讀寫器發(fā)出不同指令的能量，同時當(dāng)天線和芯片匹配在一起時，會發(fā)生輸入阻抗的變化。其次在協(xié)議上，使用頻譜分析儀去測試，但在標(biāo)簽性能如激活功率、讀取范圍，讀寫器接收靈敏度、讀寫器和標(biāo)簽仿真等問題都沒辦法測試。而如果使用矢量信號源+示波器+頻譜分析儀+軟件等方式去測試，不僅程序復(fù)雜而且價格也很高。

　　為此，羅總在會上一一介紹了RFID在標(biāo)簽及標(biāo)簽芯片、讀寫器、系統(tǒng)的各種測試方式。

　　標(biāo)簽及標(biāo)簽芯片的測試方式，一是性能測試，它會涉及到校準(zhǔn)及環(huán)境、激活功率、反向功率等，當(dāng)測試所選擇的天線、指令(Query, Read EPC)、發(fā)射功率設(shè)置及擺放位置的不同，也會導(dǎo)致測試結(jié)果的不相同。二是方向性測試，不同角度的標(biāo)簽導(dǎo)致其性能差別很大。除此之外，還有全自動規(guī)范性測試生成測試報告，當(dāng)通過自動化規(guī)范性測試軟件了解到不合格的項目之后，針對不合格的項目可以對具體的波形、時序、頻譜進(jìn)行分析，標(biāo)簽存取測試如讀/寫內(nèi)存測試等，快速了解標(biāo)簽或標(biāo)簽芯片存在的規(guī)范性問題。

　　接著在讀寫器的測試方式，在性能測試上，獨立標(biāo)簽測試需要標(biāo)簽回復(fù)(仿真標(biāo)簽)去確認(rèn)讀寫器可以識別的標(biāo)簽的響應(yīng)，并且讀寫器可以改變標(biāo)簽的參數(shù)變量如 BLF變量(反向鏈路頻率)和占空比變量等，最后會呈現(xiàn)出可以支持頻率和整個功率范圍的讀寫器性能。而在規(guī)范性測試上，通過仿真標(biāo)簽及Rx天線接收來自讀寫器的信號，可以分析每個指令的內(nèi)容、波形、時序等，且可以設(shè)置指令觸發(fā)并長時間記錄數(shù)據(jù)流。

讀寫器接收靈敏度及讀取成功率

　　RFID系統(tǒng)測試方式，其系統(tǒng)性能依賴于標(biāo)簽性能、讀寫器性能和協(xié)議設(shè)置和軟件這幾方面。系統(tǒng)測試需要獲得相關(guān)的信息，如標(biāo)簽與讀寫器之間通信的實際內(nèi)容，需要讀寫器指令及標(biāo)簽響應(yīng)時序、指令去觸發(fā)分析;通信內(nèi)容統(tǒng)計需要Q值、響應(yīng)次數(shù)、沖突次數(shù)等去讀取標(biāo)簽次數(shù)并進(jìn)行指令統(tǒng)計。

　　羅總表示，CISC提供完整的RFID測試方案，該方案包括了標(biāo)簽性能測試系統(tǒng)、標(biāo)簽方向性測試系統(tǒng)、標(biāo)簽規(guī)范性測試系統(tǒng)(自動化及手動)、讀寫器性能測試系統(tǒng)、標(biāo)簽仿真及監(jiān)聽測試系統(tǒng)、通信分析及場強(qiáng)記錄系統(tǒng)以及TIPP等。