基于 NI TestStand 管理軟件，設(shè)計(jì)了一套測(cè)試軟件，實(shí)現(xiàn)了對(duì)符合 ISO/IEC 18000-63 協(xié)議的芯片清點(diǎn)功能的測(cè)試。本測(cè)試軟件使用 NI RFID 測(cè)試儀，根據(jù)測(cè)試設(shè)計(jì)人員的需求開(kāi)發(fā)出自動(dòng)化測(cè)試序列，自動(dòng)完成與被測(cè)芯片的通信交互，實(shí)現(xiàn)對(duì)響應(yīng)的判斷，并完成結(jié)果的保存。該軟件充分采用了 NI TestStand，相比之前測(cè)試清點(diǎn)功能的傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試、半自動(dòng)測(cè)試，測(cè)試時(shí)間分別縮短了 5/6、2/3。實(shí)踐證明，使用本測(cè)試軟件可以提高對(duì)超高頻電子標(biāo)簽開(kāi)展功能測(cè)試的效率。
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