傳統(tǒng)的智能卡測(cè)試平臺(tái)需要人工干預(yù)，嚴(yán)重影響測(cè)試效率，因此難以滿足智能卡行業(yè)的測(cè)試需求。針對(duì)這個(gè)問題，在此提出一種新的解決方案。該方案以PC／SC為編程接口，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試平臺(tái)與智能卡的通信，利用擴(kuò)展的TCL解釋器定義了一種新的測(cè)試語言ATP，它包含TCL內(nèi)置命令和應(yīng)用程序的相關(guān)命令。測(cè)試人員可以利用ATP語言編寫測(cè)試用例，在此平臺(tái)上完成對(duì)智能卡的自動(dòng)化測(cè)試。該方案已經(jīng)得到實(shí)際驗(yàn)證。
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