在當(dāng)前的RFID市場(chǎng)中, 選擇與RFID應(yīng)用程序兼容的RAIN讀寫器通常是一個(gè)令人精疲力盡的 "反復(fù)試驗(yàn)" 過(guò)程?；藥滋斓臅r(shí)間來(lái)了解讀寫器的靈敏度, 并經(jīng)常用標(biāo)簽來(lái)衡量。在大多數(shù)情況下, 唯一考慮的參數(shù)是讀取器的發(fā)射功率。此選擇過(guò)程非常耗時(shí), 不可重復(fù), 并且容易出錯(cuò)，這些數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也可能有所不同。

　　CISC RFID Xplorer--我們的高精度RFID測(cè)試儀器 (用于測(cè)量RAIN標(biāo)簽、讀取器和應(yīng)用的性能和規(guī)范性) 最近在讀寫器測(cè)試方面推出了新功能。我們的系統(tǒng)配備了內(nèi)置的標(biāo)簽仿真器, 它可以準(zhǔn)確地測(cè)量標(biāo)簽的發(fā)射功率, 并記錄各種讀寫器設(shè)置, 并根據(jù)不同的影響因素 (如相移和反向鏈路) 確定讀寫器的靈敏度頻率 (BLF)。

　　另外這個(gè)RFID Xplorer可以:

　　· 用于測(cè)試RAIN讀寫器的性能及規(guī)范性

　　· 用于在研發(fā)階段驗(yàn)證和開發(fā)讀寫器芯片

　　· 用于分析RAIN標(biāo)簽和RAIN讀寫器之間的通信來(lái)調(diào)試應(yīng)用設(shè)置

　　· 集成到生產(chǎn)線用于驗(yàn)證生產(chǎn)過(guò)程中RAIN讀寫器的性能

　　Xplorer現(xiàn)在可以測(cè)試所有標(biāo)簽響應(yīng)事件的信號(hào)相位對(duì)RAIN讀寫器靈敏度的影響，Xplorer通過(guò)其相位掃描測(cè)量功能, 可以根據(jù)接收到的信號(hào)的相位清楚地評(píng)估讀取器靈敏度的變化。