產(chǎn)品詳情：

基于ICT的自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)




ICT測(cè)試儀介紹

l 短路、開(kāi)路、元件值測(cè)試
l 應(yīng)用CMOS切換技術(shù)，速度快且無(wú)使用壽命之限制
l 針對(duì)電路板殘留電荷及制成靜電，具有自動(dòng)放電保
護(hù)功能
l 可檢測(cè)SMT元件開(kāi)路及虛焊等問(wèn)題，及電容極性檢測(cè)
l 對(duì)晶體、FET、SCR等元件提供3點(diǎn)測(cè)量模式
l 可檢測(cè)BGA焊腳接觸和虛焊問(wèn)題
l 可采集波形，可對(duì)采樣的波形進(jìn)行時(shí)序分析（沿距、脈寬，時(shí)差等）
l 可任意編輯波形，可將波形保存、回放輸出
l 可測(cè)量高頻率時(shí)鐘信號(hào)，最高4GHZ
l 可選用功能式切換電路板，以整合功能測(cè)試
l 完整測(cè)試報(bào)告、測(cè)試統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，可自動(dòng)保存到PC機(jī)
l 系統(tǒng)具有自我診斷功能，方便維護(hù)保養(yǎng)
l 可用腳本語(yǔ)言編制測(cè)試程序（二次開(kāi)發(fā)）控制自動(dòng)測(cè)試全過(guò)程
l 可對(duì)邏輯通道有解碼顯示和解碼文本輸出（RS232，USB，IIC，HDLC，MAG等）
l 可對(duì)采樣的波形進(jìn)行分析（電平、幅度、頻率、平均值、脈寬、上升下降沿時(shí)間等）
l 可編程通用輸入輸出（GPIO）通道和脈寬調(diào)制（PWM）輸出通道可用于對(duì)目標(biāo)板的控制和
監(jiān)測(cè)
l 模塊化設(shè)計(jì)，方便軟硬件升級(jí)
l 可實(shí)現(xiàn)定制化服務(wù)

ICT測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)

測(cè)試通道 邏輯通道：32，可擴(kuò)展128
模擬通道：16，可擴(kuò)展64
可編程通用輸入輸出（GPIO）通道：5，可擴(kuò)展20
脈寬調(diào)制（PWM）輸出通道：2，可擴(kuò)展到8
測(cè)試點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)數(shù)48，可擴(kuò)展192，測(cè)試點(diǎn)可分時(shí)復(fù)
邏輯解碼 支持RS232，USB，IIC，HDLC，MAG，PS2等，可支持?jǐn)U展
采樣頻率 邏輯：50MHz
模擬：5MHz
最大高速頻率計(jì)測(cè)量頻率 4GHz
最大存儲(chǔ)深度 邏輯：2796K采樣點(diǎn)
模擬：4194K采樣點(diǎn)
測(cè)試范圍 電阻，電晶體，二極管，電容，電感，IC等元器件
最小電流：0.001A
電壓-1v-6v
可測(cè)電路板尺寸 可定制
主控制電腦 Pentium等級(jí)以上PC
工作方式 手動(dòng)
電源 AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz，350W

典型測(cè)試應(yīng)用

生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試：臺(tái)應(yīng)用在嵌入式電子產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試中，生產(chǎn)測(cè)試覆蓋率可達(dá)99%以上，
測(cè)試效率可提升10倍以上。
壽命測(cè)試： 用于鍵盤、繼電器等壽命測(cè)試
成功率測(cè)試： 用于磁卡、IC卡、條碼、RFID 識(shí)讀的成功率測(cè)試。