如今，RFID技術(shù)應(yīng)用已經(jīng)進(jìn)入高潮期，RFID標(biāo)簽的大批量應(yīng)用已經(jīng)屢見(jiàn)不鮮，但是就算是頂尖的RFID標(biāo)簽生產(chǎn)企業(yè)也不敢保證其生產(chǎn)的標(biāo)簽“萬(wàn)無(wú)一失”，在目前RFID仍受詬病的情況，一點(diǎn)小閃失就會(huì)產(chǎn)生大的影響。如何保證給客戶提供的標(biāo)簽產(chǎn)品性能統(tǒng)一?在3月29-30日，2017(第十一屆)RFID世界大會(huì)上，中科國(guó)技大客戶經(jīng)理李哲先生精彩分享了《標(biāo)簽性能的一致性解析》的演講，詳細(xì)介紹了影響標(biāo)簽性能一致性的因素和測(cè)試方法。

中科國(guó)技大客戶經(jīng)理李哲先生

　　中科國(guó)技是一家注冊(cè)于北京中關(guān)村的高科技型企業(yè)，領(lǐng)先的EMC、RFID、OTA、材料測(cè)試、雷達(dá)天線測(cè)試方案提供商，已發(fā)布五大產(chǎn)品線、多種測(cè)試認(rèn)證系統(tǒng)，旨在為無(wú)線通信與電磁兼容領(lǐng)域的客戶提供集軟件、硬件、專用儀表為一體的全方位測(cè)試解決方案，目前已與芬蘭Voyantic、美國(guó)是德公司建立緊密的合作伙伴關(guān)系。

　　影響生產(chǎn)標(biāo)簽性能不一致的因素

　　李經(jīng)理在演講中舉例稱，某一最終用戶的應(yīng)用場(chǎng)景需要標(biāo)簽讀距達(dá)到6米才會(huì)避免漏讀情況，圖示標(biāo)簽經(jīng)檢測(cè)達(dá)到用戶要求，但發(fā)現(xiàn)了漏讀情況。經(jīng)過(guò)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)，生產(chǎn)中標(biāo)簽性能的不一致導(dǎo)致了類似情況的發(fā)生。像這種情況如果發(fā)生，就會(huì)給終端用戶帶來(lái)不好的印象，認(rèn)為RFID不能解決其問(wèn)題，還不如人工來(lái)的可靠。因此，標(biāo)簽性能的一致性會(huì)成為阻礙RFID行業(yè)發(fā)展的一大因素。

　　隨著全球800/900MHz RFID技術(shù)的飛速發(fā)展， 800/900MHz無(wú)源標(biāo)簽的全球年出貨量已由09年的4億片增長(zhǎng)至2016年的約100億片，各種RFID應(yīng)用領(lǐng)域中標(biāo)簽使用量的增加，因標(biāo)簽之間的性能差異所造成的RFID應(yīng)用問(wèn)題也陸續(xù)浮現(xiàn)。李經(jīng)理稱，越來(lái)越多的RFID應(yīng)用方和標(biāo)簽供應(yīng)商開(kāi)始關(guān)注標(biāo)簽性能一致性檢測(cè)。

　　李經(jīng)理指出，影響影響生產(chǎn)標(biāo)簽性能不一致的因素有很多，比如產(chǎn)線設(shè)備穩(wěn)定性、膠水質(zhì)量、熱壓溫度、熱壓壓力、天線工藝、封裝工藝以及芯片選擇等因素都會(huì)使標(biāo)簽之間的性能出現(xiàn)差異，甚至?xí)霈F(xiàn)標(biāo)簽無(wú)法工作的情況。而目前通用的標(biāo)簽產(chǎn)線檢測(cè)設(shè)備只能檢測(cè)出標(biāo)簽是否能夠正常工作，卻無(wú)法檢測(cè)出每枚標(biāo)簽之間性能的偏差值。一般生產(chǎn)線上的抽檢也無(wú)法完全統(tǒng)計(jì)并篩選出性能偏差過(guò)大的標(biāo)簽，而且該方法測(cè)試速度慢，無(wú)法滿足對(duì)標(biāo)簽生產(chǎn)速度上的要求。針對(duì)以上情況，中科國(guó)際推出了標(biāo)簽性能一致性檢測(cè)方案。

　　該測(cè)試方案的特點(diǎn)是可以高速的檢測(cè)出性能不一的弱標(biāo)簽，配合復(fù)合設(shè)備檢測(cè)速度可達(dá)8萬(wàn)枚/小時(shí)，配合卷對(duì)卷機(jī)架速度能達(dá)到5萬(wàn)枚/小時(shí)，提高了用戶的檢測(cè)效率。另外，該方案是開(kāi)源的技術(shù)，可以通過(guò)RS-232等與廠家設(shè)備進(jìn)行集成測(cè)試。目前該方案已經(jīng)和紐豹的生產(chǎn)設(shè)備相互集成，可以顯示每片標(biāo)簽的生產(chǎn)性能，并能形成詳盡的檢測(cè)報(bào)告，改善標(biāo)簽生產(chǎn)工藝。

　　中科國(guó)際檢測(cè)方案覆蓋各環(huán)節(jié)

　　中科國(guó)技是芯片、標(biāo)簽到系統(tǒng)應(yīng)用的RFID測(cè)試技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者，從FPGA、芯片、標(biāo)簽產(chǎn)品問(wèn)題定位測(cè)試，到高端認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)方案皆能提供。中科國(guó)技/Voyantic用戶群包含了生產(chǎn)企業(yè)、學(xué)校研究所/實(shí)驗(yàn)室、最終用戶、系統(tǒng)集成商等。

　　李經(jīng)理稱，從市場(chǎng)上看，國(guó)外的最終用戶、系統(tǒng)集成商使用其檢測(cè)設(shè)備的占公司銷售份額的一半，在國(guó)內(nèi)這部分客戶基本沒(méi)有，市場(chǎng)主要集中在生產(chǎn)企業(yè)和科研院校，這就說(shuō)明我國(guó)對(duì)RFID技術(shù)的應(yīng)用基礎(chǔ)沒(méi)有國(guó)外高，終端用戶對(duì)RFID技術(shù)了解程度不夠。據(jù)了解，中科國(guó)際在全球有超過(guò)550套R(shí)FID測(cè)試系統(tǒng)交付-75%的用戶來(lái)源于國(guó)外市場(chǎng)。

　　中科國(guó)際可為客戶提供標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證檢測(cè)方案、研發(fā)級(jí)測(cè)試方案、應(yīng)用仿真/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方案，涵蓋了產(chǎn)品設(shè)計(jì)、研發(fā)、應(yīng)用的各個(gè)環(huán)節(jié)。

　　其中，研發(fā)級(jí)測(cè)試方案可為用戶提供標(biāo)簽測(cè)試/現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用測(cè)試、標(biāo)簽芯片測(cè)試、讀寫器測(cè)試、標(biāo)簽彎曲特性檢測(cè)服務(wù)，幫助用戶更好的進(jìn)行產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，保障性能的產(chǎn)品性能的穩(wěn)定可靠。應(yīng)用仿真/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方案可模擬RFID最核心的四種模型，比如室內(nèi)、室外模型、密集反射的多徑模型、高速度的多普勒模型，可用戶現(xiàn)場(chǎng)的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境監(jiān)控、應(yīng)用盲點(diǎn)監(jiān)控、盲點(diǎn)問(wèn)題排查等。

　　此外，通用物聯(lián)網(wǎng)終端性能測(cè)試平臺(tái)支持Wi-Fi、藍(lán)牙、Zigbee、2/3/4G、NB-IoT、LTE-V、RFID、ETC等產(chǎn)品的三維性能測(cè)試，以及600MHz-6GHz天線性能測(cè)試。

　　李經(jīng)理最后總結(jié)稱，RFID標(biāo)簽的性能一致性將越來(lái)越多的影響RFID行業(yè)市場(chǎng)推廣，美國(guó)奧本大學(xué)RFID實(shí)驗(yàn)室已率先將標(biāo)簽性能一致性檢測(cè)納入標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)項(xiàng)目，中科國(guó)技/Voyantic愿持續(xù)提供國(guó)際領(lǐng)先的測(cè)試解決方案，為更多的RFID從業(yè)者提供服務(wù)。

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