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超快速充電芯片為電池安全把關(guān)

作者:Susan Hong
來源:NTU Singapore
日期:2015-11-30 14:05:24
摘要:新加坡南洋理工大學(xué)(Nanyang Technological University;NTU Singapore)的研究人員開發(fā)出一款可監(jiān)測(cè)電池狀態(tài)的智慧晶片,不僅能讓充電時(shí)間大幅縮短到10分鐘以內(nèi),還可確認(rèn)電池的健康狀況以及是否可以安全使用。

  新加坡南洋理工大學(xué)(Nanyang Technological University;NTU Singapore)的研究人員開發(fā)出一款可監(jiān)測(cè)電池狀態(tài)的智慧晶片,不僅能讓充電時(shí)間大幅縮短到10分鐘以內(nèi),還可確認(rèn)電池的健康狀況以及是否可以安全使用。

  當(dāng)用戶的智慧型手機(jī)或電動(dòng)車中的電池出現(xiàn)故障或存在著火的風(fēng)險(xiǎn)時(shí),這款智慧晶片就會(huì)發(fā)出警告。相形之下,目前的警示系統(tǒng)只能在電池已經(jīng)過熱或者任何補(bǔ)救措施都已經(jīng)太遲之后才會(huì)通知用戶。

  南洋理工大學(xué)能源研究所教授Rachid Yazami主導(dǎo)開發(fā)的這款智慧晶片尺寸相當(dāng)小,幾乎可以嵌入于所有的電池中。

  Yazami教授是電池研究的先驅(qū),他曾經(jīng)獲頒美國國家工程學(xué)院(National Academy of Engineerin;NAE)的德雷鉑獎(jiǎng)(2014 Draper Prize for Engineering),表彰他作為鋰離子電池的三大發(fā)明人之一。該獎(jiǎng)項(xiàng)認(rèn)可他于1980年代發(fā)現(xiàn)如何讓鋰離子電池可安全充電的成就,從而為今日的普遍應(yīng)用鋪路。

  “雖然電池故障起火的風(fēng)險(xiǎn)很低,但由于每年生產(chǎn)幾十億的鋰離子電池,即使是百萬分之一的機(jī)率都可能意味著上千次的故障意外,”Yazami教授解釋,“這為電動(dòng)車甚至是先進(jìn)的飛機(jī)帶來嚴(yán)重的風(fēng)險(xiǎn),因?yàn)榇笮碗姵亟M中通常裝載著數(shù)百個(gè)或串聯(lián)更多電池單元,才足以為汽車或飛機(jī)提供動(dòng)力。如果因?yàn)槠渲幸粋€(gè)電池故障引起化學(xué)物質(zhì)著火,就可能導(dǎo)致附近的電池起火,甚至引發(fā)爆炸?!?/p>

  Yazami教授根據(jù)電化學(xué)熱力學(xué)測(cè)量開發(fā)出專有演算法,嵌入于智慧晶片中。

超快速充電芯片為電池安全把關(guān)

  這款智慧型電池監(jiān)測(cè)晶片比10美分硬幣更小得多

  現(xiàn)有的鋰離子電池內(nèi)部都有一款可顯示其電壓與溫度讀數(shù)的晶片,但當(dāng)今的電池晶片還無法偵測(cè)功能故障的征狀,只能顯示電池充電的估計(jì)電量。

  然而,Yazami教授的專利演算法透過3D圖表分析電池的健康狀態(tài)與充電狀況。在顯示螢?zāi)簧?,它看起來就類似于從山上一路滑雪而下的路徑。Yazami教授說:“全新電池使用時(shí)的‘滑雪路線’看起來與電池老化或故障的情況不同,就像2個(gè)指紋彼此不同一樣?!?/p>

  “除了知道電池的老化狀況,我們的技術(shù)還能夠告知電池充電時(shí)的實(shí)際情況,因而最佳化充電過程,使得電池能夠在更快充電的同時(shí)也維持在最佳狀態(tài)?!蹦壳暗碾姵卦诔潆娺^程中保護(hù)程度不足,使得充電速度減慢,如今,新的晶片將能解決這個(gè)問題,迅速在10分鐘之內(nèi)完全充電。

  “預(yù)計(jì)在未來,每一個(gè)電池中都會(huì)有這樣的晶片,從而降低了電子裝置與電動(dòng)車中電池起火的風(fēng)險(xiǎn),同時(shí)延長(zhǎng)其使用壽命?!?/p>

  Yazami教授花費(fèi)五年的時(shí)間打造這款智慧晶片,如今由其新創(chuàng)的KVI Pte Ltd.進(jìn)行銷售。另一位研究科學(xué)家Sohaib El Outmani也協(xié)助了這項(xiàng)研究,兩人共同于南洋理工大學(xué)能源研究所(ERIAN)開發(fā)這款智慧晶片平臺(tái)。

  KVI是由南洋理工大學(xué)商業(yè)化計(jì)劃NTUitive育成,該公司計(jì)劃將這款晶片發(fā)展成為一系列的產(chǎn)品,包括用于為行動(dòng)裝置充電的電池組、電動(dòng)車的充電計(jì),以及可用于每個(gè)電池中的智慧晶片。

  這家新創(chuàng)公司取得了Yazami教授ETM技術(shù)的獨(dú)家授權(quán),該技術(shù)主要根據(jù)他在新加坡南洋理工大學(xué)、加州技術(shù)學(xué)院(Caltech))以及法國國家科學(xué)研究中心(CNRS)的研究。

  該技術(shù)將于2016年底以前提供給晶片制造商與電池制造商授權(quán)。

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