該公司的芬蘭創(chuàng)始公司宣布其新研制的測試系統(tǒng)可以幫助電子標(biāo)簽的研究設(shè)計團(tuán)隊將新型標(biāo)簽推向市場的時間縮短一半。 

      上世紀(jì)90年代末，當(dāng)麻省理工學(xué)院教授Sanjay Sharma和David Brock開始為物流和供應(yīng)鏈應(yīng)用設(shè)計RFID系統(tǒng)時，無源超高頻（UHF）標(biāo)簽和讀寫器的發(fā)展正引起人們的關(guān)注。盡管如此，設(shè)計、開發(fā)、測試和最后推出基于EPC Gen2標(biāo)準(zhǔn)的新產(chǎn)品仍需要大大小小的RFID芯片和嵌體制造商投入大量的時間以及人力物力進(jìn)行研究開發(fā)。 

      為了使標(biāo)簽制造商加快研發(fā)過程，許多企業(yè)提供一些工具來測試RFID標(biāo)簽。該芬蘭的公司Voyantic就是其中之一，該公司開發(fā)了一個名為Tagformance的標(biāo)簽測試產(chǎn)品。Voyantic的首席執(zhí)行官Jukka Voutilainen說，他們公司的這款工具很特別，因為它不僅可以驗證標(biāo)簽是否正常工作，還可以測試標(biāo)簽工作的狀態(tài)和效率如何。據(jù)Voutilainen透露，利用該測試工具，標(biāo)簽的研究設(shè)計商可以將把新標(biāo)簽推向市場所需要的時間縮短為原來的一半。

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圖為插入運行著Tagformance軟件的Tagformance精簡裝置，以及一個與正在被測試的RFID標(biāo)簽

      Voyantic公司是Voutilainen和他的同事2004年在赫爾辛基大學(xué)進(jìn)行研究時創(chuàng)辦的。他說：“2006年，我們開始提供一些(超高頻無源RFID）標(biāo)簽的測試服務(wù)和咨詢服務(wù)，之后在2007年的春天，我們推出了Tagformance產(chǎn)品?！?nbsp;

      目前該公司的客戶包括RFID業(yè)界巨頭Impinj，以及Omni-ID和UPM Raflatac等公司。 

      Tagformance是一條在Tagformance Lite測試儀上運行的共享測試軟件。Tagformance要與基于特定用戶需求的外延設(shè)備一起使用。該測試儀是帶有一個輸入天線和輸出天線接口的專門的RFID閱讀器。天線接口一個用來向標(biāo)簽傳輸信號，另一個接收標(biāo)簽的反向散射信號，軟件會對該信號進(jìn)行分析。該儀器大概跟一個鞋盒子差不多大，它可以方便的移動，插入到臺式機或筆記本的USB接口中，來運行用戶需要的Tagformance軟件產(chǎn)品。共有四種不同的Tagformance軟件產(chǎn)品，分別是：標(biāo)簽設(shè)計組，應(yīng)用開發(fā)組，協(xié)議測試組和標(biāo)簽生產(chǎn)測試組。 

      標(biāo)簽的開發(fā)人員可以使用標(biāo)簽設(shè)計組在工程設(shè)計過程中評估標(biāo)簽原型的性能。根據(jù)EPC Class 1 Gen 2標(biāo)準(zhǔn)，Atmel的Tagidu協(xié)議或EM Microelectronic的EM4122協(xié)議，該組軟件有特定的算法來確定并描述一個標(biāo)簽的無線射頻敏感度和反向散射信號的性能。 

      Omni-ID的首席技術(shù)官Andre Cote說：“我們使用Voyantic的軟件來測試我們產(chǎn)品的射頻性能。這個軟件可以幫你繪制每個標(biāo)簽的射頻靈敏度曲線，因此你可以看到與另一個不同設(shè)計的標(biāo)簽相比，該標(biāo)簽的性能如何?！?nbsp;

      Tag Designer可能用在對原型標(biāo)簽進(jìn)行所謂的掃頻，以測試三項指標(biāo)：哪個頻率能帶來最好的標(biāo)簽反應(yīng)，需要激活標(biāo)簽的射頻功率，在不同頻率和功率下成功讀取的標(biāo)簽數(shù)目。(Voyantic公司發(fā)布了示范視頻。)公司使用Tag Designer將測試儀器和圓形標(biāo)簽放在一個消聲室里來減少測試標(biāo)簽時四周的射頻干擾。 

      應(yīng)用開發(fā)組服務(wù)于系統(tǒng)整合商或類似的服務(wù)供應(yīng)商，這些商家需要實地測試標(biāo)簽性能參數(shù)，來決定哪個標(biāo)簽?zāi)Ｐ驮谀硞€特定的應(yīng)用方面會是最好的。該軟件可以在大量標(biāo)簽通過讀取區(qū)時測試它們的反應(yīng)性，同時也可以確定由附近的RFID讀寫器造成的干擾的程度。這使用戶可以優(yōu)化RFID的硬件設(shè)計。 

      協(xié)議測試組用來讓標(biāo)簽制造商測試它們的標(biāo)簽與EPC Gen 2標(biāo)準(zhǔn)或者專門的RFID協(xié)議的一致性。Impinj的首席技術(shù)官Chris Diorio說，測試器與現(xiàn)有的RFID閱讀器相似，除了測試器可以使用戶在測試標(biāo)簽時選擇更寬泛的設(shè)置，比如比在Impinj的Speedway讀寫器上可使用的設(shè)置更寬泛。Diorio說，Impinj用測試儀器和協(xié)議測試軟件來測試并證明仍處于保密狀態(tài)的新的RFID標(biāo)簽的特殊性能。 

      Diorio說道：“這個儀器表明，(超高頻)RFID正在成長，因為它將我們在射頻實驗室中做的事情放到一個便攜的盒子里?；旧?，你按下A鍵可以測試參數(shù)1，按下B鍵可以測試參數(shù)2，等等?！痹摲绞筋愃朴跒槠渌愋偷耐ㄓ嵲O(shè)備設(shè)計的測試器。 

      根據(jù)Voutilainen透露,Voyantic公司推出的最新產(chǎn)品Tag Production Tester可以使標(biāo)簽制造商在大量標(biāo)簽生產(chǎn)出來之后檢測其樣本，或者當(dāng)制造過程中新加入一步程序時測試每個標(biāo)簽?！八械臉?biāo)簽制造商都要測試標(biāo)簽的功能性，但是我們的軟件通過研究激活一個標(biāo)簽需要多少功率來測試標(biāo)簽的讀取范圍，”他解釋道，“在一批標(biāo)簽中，很小的東西就可以給標(biāo)簽性能帶來很大的影響。也許會有變化導(dǎo)致出現(xiàn)天線芯片的不良附件。我們在生產(chǎn)過程中監(jiān)控標(biāo)簽性能，尋找每個標(biāo)簽的變化?！?nbsp;

      Voutilainen說，這樣可以提供有價值的信息來幫助標(biāo)簽制造商在生產(chǎn)過程中解決問題。 

      Voyantic的報告顯示產(chǎn)品測試軟件或者可以分析離開生產(chǎn)線的小批量標(biāo)簽，或者分析每小時生產(chǎn)50000個標(biāo)簽的高速生產(chǎn)線的一部分標(biāo)簽。目前公司正在尋找像Datacon一樣的合作伙伴來處理生產(chǎn)RFID嵌體制造裝備的業(yè)務(wù)。