新科金朋(STATS ChipPAC)采購惠瑞捷(Verigy)Port Scale射頻(RF)測試解決方案，以測試高整合度的無線射頻元件。

　　Verigy V93000是一套可擴充的機臺架構(gòu)，能用以測試系統(tǒng)單晶片(SoC)、系統(tǒng)級封裝(SIP)、以及高速記憶體元件。能解決業(yè)者在進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量生產(chǎn)測試的性能及成本上面臨的嚴苛挑戰(zhàn)。

　　Port Scale射頻測試解決方桉可為整合元件(內(nèi)含射頻、溷合訊號、數(shù)位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路)，提供高效率的多元件(Multi- site)測試能力以及所需的測試埠數(shù)。這套測試系統(tǒng)可提供大規(guī)模的多元件測試能力，支援高達12.8Gbps的資料速率，以及各種數(shù)位、溷合訊號、射頻及無線通訊的應用，如蜂巢式通訊、WLAN、WiMAX及UWB等。